衰減全反射（ATR）探頭/前表面熒光探頭
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- 更新時間：2023-12-21
- 產品介紹：衰減全反射（ATR）探頭/前表面熒光探頭衰減全反射探頭設計用于具有高吸收性樣品（3,000-5,000 AU / cm之間）的應用。 ATR探頭可直接插入樣品中，無需稀釋即可測量光譜特性。 通常，ATR探頭用于純墨水，染料和原油樣品。
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產品介紹
| 品牌 | CUSTOM/日本東洋 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子/電池,綜合 |
衰減全反射（ATR）探頭
衰減全反射探頭設計用于具有高吸收性樣品（3,000-5,000 AU / cm之間）的應用。 ATR探頭可直接插入樣品中，無需稀釋即可測量光譜特性。 通常，ATR探頭用于純墨水，染料和原油樣品。
標準規(guī)格
Ø探頭長度：225毫米
Ø探頭直徑：12毫米
Ø材質：316不銹鋼
Ø內部光學器件：熔融石英
Ø密封材料：氟橡膠
Ø溫度：-5 C – 204 C
Ø波長：220 – 2400 nm
應用領域
吸光度
在某些應用中，檢測顏色變化的能力對于過程控制至關重要。 隨著分析物顏色的變化，其吸收的光量也會變化。 根據比爾定律，光的吸收率與濃度和所測路徑長度的乘積成正比。 我們開發(fā)了一款光度計，與外部流通池或透射探頭配合使用時，將快速檢測顏色變化并將其以AU形式顯示在設備的顯示屏上。
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水分監(jiān)測 | 蛋白質監(jiān)測 |
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濁度 | 色彩監(jiān)測 |
數據表
前表面熒光探頭
顧名思義，我們的前表面熒光探頭旨在測量液體，固體，糊劑或漿液的表面熒光。 探頭的內部光學器件將來自光源的光聚焦在窗戶的濕潤側，從而無需穿透樣品進行讀數。 與其他競爭光學設備相比，這種集中的焦點和較淺的穿透深度顯著降低了內部濾鏡效果。
前表面熒光探頭有兩種形式：一種帶有可拆卸的光纜，另一種帶有集成的光纜。 帶有可拆卸光纖的型號可進行蒸汽滅菌/高壓滅菌，并帶有密封的近端蓋以保護SMA-905光纖連接。
標準規(guī)格
Ø探頭插入長度：4英寸
Ø探頭直徑：½”或12mm
Ø材質：316不銹鋼
Ø視窗：藍寶石
Ø密封材料：氟橡膠
Ø溫度：-5 C至204 C
Ø波長：220 – 2400 nm
測量方法
熒光監(jiān)測
強度測量的熒光是指這樣的過程，其中通過光吸收進行的電子激發(fā)先于光子的損失和一定波長的光的發(fā)射。 發(fā)生激發(fā)和發(fā)射的波長*取決于目標分析物。 測量工藝流中分析物的熒光提供了一種檢測特定分析物濃度的非常靈敏的方法。
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蛋白質監(jiān)測 | 發(fā)酵 |
數據表
